觀察導電粒子的個數以及分布，確認導電粒子是否符合要求。這個是每個做液晶模組廠家的必須要求。

使用金相顯微鏡系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導電粒子，確認導電粒子個數是否符合要求。

首先，需要觀察導電粒子必須要有配有DIC 及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為最好，超過后會由于景深的問題導致觀察效果模糊，無法觀察到最好的效果。
明美MJ33DIC超高性價比的金相顯微鏡是觀察導電粒子的最佳選擇！

以下是我司MJ33DIC配套我司自主研發的高清顯微成像系統拍攝的導電粒子圖片：

紅色區域為導電粒子，在普通觀察方式底下看不到